有没有一种解决狭窄空间,高空测量,水下测量涂镀层厚度的方法top-chekc?

菲希尔金镍厚度分析仪、金镍厚度测量仪、金镍分析仪——X射线荧光镀层测厚及材料分析仪菲希尔金镍测厚仪用途:XDLM-PCB200型:首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析菲希尔金镍测厚仪技术参数:元素范围:从元素氯(17)到铀(92),最多可同时测定24种元素。形式设计:台式仪器,测量门底部开槽设计。测量方向:由上往下X射线管:带铍窗口的微聚焦钨管高压:三档:30KV,40KV,50KV孔径(准直器):0.2mm基本滤片:固定测量点尺寸:取决于测量距离和使用的孔径大小;视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸;最小测量点约为:0.16mm测量距离:0-10mm(0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法X射线探测器:比例接收器菲希尔金镍测厚仪应用领域:钟表,首饰,眼镜汽车及紧固件卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件PCB

摘要:在一定速度的液流(试液)作用下,使试样的局部镀层溶解。镀层完全溶解的终点,可由肉眼直接观察金属特征颜色的变化,或借助于特定的终点指示装置(显示镀层完全溶解的瞬间电位或电流的变化)来确定。金属镀层的厚度可根据试样上局部镀层溶解完毕时所消耗的

在一定速度的液流(试液)作用下,使试样的局部镀层溶解。镀层完全溶解的终点,可由肉眼直接观察金属特征颜色的变化,或借助于特定的终点指示装置(显示镀层完全溶解的瞬间电位或电流的变化)来确定。金属镀层的厚度可根据试样上局部镀层溶解完毕时所消耗的时间来计算。

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